受激辐射耗尽荧光显微镜的原理与实验装置研究进展

摘要：

介绍了四能级系统的受激辐射耗尽(STED)荧光显微镜的基本原理.按照时间顺序介绍了面包圈型耗尽光焦斑的实现方法.对于横向分辨率的改善,最初使用了光路偏移法,后来发展到均分相位板法,再到成熟的螺旋相位板法；另外还介绍了半波相位板法对轴向分辨率的改善.从宽带光源激发、连续光源激发、多色多通道、快速成像和双光子激发等方面综述了受激辐射耗尽荧光显微镜实验装置的逐步完善.最后展望了受激辐射耗尽荧光显微镜的发展前景.

关键词：显微术、超分辨、受激辐射耗尽、分辨率、联用成像

所属期刊栏目：49

分类号：O436(光学)

资助基金：国家自然科学基金11074300,21127901;中央高校基本科研业务费专项资金00-800015G5;中国科学院科研装备研制项目YZ200925资助课题

在线出版日期：2013-02-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共14页

页码：1-14