基于特高频法的G IS局部放电典型缺陷检测及模式识别

摘要：

G IS局部放电检测是G IS绝缘状态监测的一种科学有效的方法。当今，局部放电信号类型的识别越来越受到电气试验技术人员的重视。现基于特高频检测方法，对G IS局部放电中几种典型缺陷的检测及模式识别进行研究。

关键词：特高频、局部放电、典型缺陷、模式识别

分类号：TM8;TM7

在线出版日期：2015-10-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：13-14