DC-DC变换器中IGBT并联不均流及开关损耗问题研究
分析了影响DC-DC变换器中IGBT并联均流的主要因素,并提出了相应的改善措施;同时,采取IGBT与MOSFET并联的方法,减小了IGBT的动态损耗,仿真分析结果说明该方法是有效的.
IGBT、并联均流、动态损耗
U66;TP3
2013-08-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
34-35
IGBT、并联均流、动态损耗
U66;TP3
2013-08-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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