10.3969/j.issn.1002-6673.2020.01.007
一种X射线管测试用控制器研制
在X射线管的生产过程中,对新生产完成的产品老化测试是必不可少的.为保证产品质量,满足安检领域X射线管的生产测试需要,制作完成了一套180kV/2.5mA的X射线管老化测试平台用控制器,该控制器高压和灯丝供电均采用半桥为高频逆变拓扑,以脉宽调制芯片UC2526ADW和数字控制器TMS320F2808PZA为控制核心.通过对该控制器的实际生产老化测试,结果满足应用要求.
X射线管、高频逆变、UC2526ADW
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TP23(自动化技术及设备)
2020-04-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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