CsI探测器余辉性能测试仪关键技术研究与实现

摘要：

为检测CsI(Tl)探测器的余辉性能,帮助探测器进行分档,论文通过对余辉测试仪设计过程中的电动缸选型计算、射线屏蔽、电磁兼容设计等关键问题进行分析,自主研发了一台CsI探测器余辉测试仪.该测试仪快门关断时间≤3ms;可测余辉值的时间范围:5ms～500ms.并能对采集数据进行分析,得到探测器晶体各像素的余辉和平均余辉,及其变化曲线.余辉测试仪的检测结果将为安检整机提供具有数据信息的系列探测板,促进其图像质量更上一层楼.

关键词：CsI(Tl)闪烁晶体、余辉、电动缸、射线屏蔽

所属期刊栏目：28

分类号：TM938

在线出版日期：2015-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：26-28