基于NI软件的S参数自动测量系统

摘要：

为了提高手动测量微波器件相关产品的S参数的效率,解决测试报告生成自动化问题,根据产品的测试原理和要求,结合TestStand和Labview这两款NI软件的各自优势,从而实现产品相关参数测试的自动化.论文介绍了该系统的构成,详细介绍软件设计流程和功能实现,测试实例表明:该系统提高了测试效率,精度高.

关键词：微波器件、TestStand、Labview、S参数、测量系统

所属期刊栏目：25

分类号：TP317(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2012-12-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：125-126