基于PLC的微焦点X射线源控制系统设计

摘要：

X射线显微分析技术利用X射线的穿透能力,结合精密定位和数据反演技术,可以在微米甚至亚微米尺度上展现被测样品的内部结构、密度和缺陷等特征信息.该技术已然成为一种重要的物理分析方式,且被广泛应用于生命科学、材料学和先进制造等领域.微焦点X射线源是X射线显微分析系统的核心部件之一,其性能直接影响着系统的测试分辨率和效率.针对微焦点X射线源使用中安全防护升级、工作效率提升、控制精度提高的需求,设计一套基于PLC的微焦点X射线源控制系统,并介绍该系统具体的实现过程.采用JIMA分辨测试卡进行分辨率成像实验,实现了3μm线对的分辨率,证实了该控制系统性能良好,能够满足使用需求.

关键词：PLC控制系统设计、微焦点X射线源、微焦点成像

所属期刊栏目：48

分类号：TP24(自动化技术及设备)

资助基金：国家重大科学仪器设备开发专项项目;中国科学院关键技术研发团队项目

在线出版日期：2021-01-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：93-96