数字电路阈值故障测试生成算法

摘要：

提出一种有效的数字电路故障阈值故障测试生成算法.首先构造出数字电路的阈值测试模型,通过这个模型可以区分出可接受故障和不可接受故障,然后使用成熟的固定故障测试生成算法得到不可接受故障的测试生成矢量.在ISCAS'85和ISCAS'89电路上的实验结果表明:该算法的故障覆盖率能达到96％,故障测试生成时间少于0.019 s.

关键词：可接受故障、阈值测试生成、测试生成算法

所属期刊栏目：47

分类号：TN79(基本电子电路)

资助基金：国家自然科学基金资助项目61300098;吉林市科技局科技研究项目20161202;吉林省教育厅科技研究项目JJKH20170033KJ

在线出版日期：2019-09-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：19-23