基于三值神经网络和混沌搜索的数字电路串扰时滞故障测试生成算法

摘要：

提出了一种有效的串扰时滞故障测试生成算法,该算法使用了三值神经网络理论和混沌搜索方法.首先在电路的受害点处把电路分成两个部分,对第一部分,可以得到时滞时间表达式;对第二部分,使用混沌搜索和三值神经网络网络的方法把故障传播到输出端.最后,能够把故障传播到输出端且使时滞时间表达式取最大值的输入矢量就是串扰时滞故障的最优测试矢量.实验结果表明该算法能够容易地得到故障输入测试矢量,平均测试生成时间小于0.25 μs,故障覆盖率能够达到98.2％.

关键词：串扰时滞故障、三值神经网络、混沌搜索

所属期刊栏目：47

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金资助项目61300098;吉林省教育厅项目JJKH20180340KJthe National Natural Science Foundation of ChinaStudy on higher-order logic based inductive logic programming learning algorithm and its application,61300098;the project of Jilin province department of education,Science and technology research project of Beihua University;college students innovation and entrepreneurship project of Beihua universityYong-heng SUN,2018

在线出版日期：2019-06-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：52-56