非鲁棒路径时滞故障测试生成算法

摘要：

针对数字电路中非鲁棒路径时滞故障测试时间长、故障覆盖率较低的问题，提出了人工蜂群优化的测试生成算法。该算法首先应用电路转换法则把数字电路转换成为其等效电路，然后用Hopfield神经网络构建等效电路单固定故障的约束电路，并得到能量函数；再应用人工蜂群优化算法计算能量函数的最小值以得到等效电路单固定故障的测试矢量，最后根据对应关系得到原电路非鲁棒路径时滞故障的测试矢量对。在ISCAS’85国际标准电路上的实验结果表明：该算法故障覆盖率能够达到98％，并且平均测试生成时间小于0．8 s。

关键词：测试生成、非鲁棒路径时滞故障、Hopfield神经网络、人工蜂群算法

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：the National Natural Science Foundation of ChinaStudy on higher-order logic based inductive logic programming learning algo-rithm and its application，61300098;Jilin City Technology Bureau Foundation Intelligent control system of Warehousing Logistics，201414006．

在线出版日期：2015-05-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：54-58