基于STM32光栅细分算法在指示表检定仪上的应用

摘要：

针对光栅测长在指示表检定仪上的应用缺陷，提出了一种光栅位移高精度细分的软件实现方法，在STM32上编程对光栅的两路正交正弦信号进行采集和分析，实现莫尔条纹可逆计数和细分。该方法省去了计数和细分的外围硬件电路，使得系统简单可靠、成本低。通过对栅距为20μm的光栅进行200细分的实验研究，并采用Renishaw激光干涉仪检验该方法的细分精度，结果表明其精度满足要求。

关键词：STM32、光栅细分、指示表检定仪、精度

分类号：TH711(仪器、仪表)

在线出版日期：2014-12-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：129-131,135