CMOS模拟集成电路匹配技术及其应用

摘要：

集成电路工艺变化引起失配,而模拟集成电路匹配特性影响电路的性能,电路达到适当的匹配已成为模拟电路设计的一个重要设计目标.该文阐述了失配的机理,分析了失配引起电路共模抑制比降低、失调和偶次失真等影响,在此基础上研究了消除一阶工艺梯度偏差的匹配版图技术,并针对一运放电路分析了匹配技术在运放版图设计中的应用.

关键词：模拟集成电路、版图、匹配、运放

所属期刊栏目：27

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：浙江省科技厅资助项目Z10052

在线出版日期：2008-04-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：13-16