硅衬底在片螺旋电感建模及其参数提取

摘要：

对重掺杂的硅衬底来说,衬底涡流效应已变得较为明显,如何精确的表征这一方面的影响,对于在标准CMOS工艺上实现的在片螺旋电感建模来说,已显得至关重要.该文给出了一种新的采用Transformer Loop来精确表征涡流效应导致的衬底损耗的在片螺旋电感模型,同时采用阶梯4元件结构和一功率电阻Rp来表征电感的趋肤效应和邻近效应,实现了级联电阻的非频变性,可以满足在SPICE等时域仿真器中大小信号及瞬态分析的需要.新的模型同样也适合于对多层电感建模,通过对实际在片电感的测试、验证,给出的模型在较宽的频段内能够精确地吻合测试数据.

关键词：在片螺旋电感、等效电路模型、射频集成电路、趋肤效应、涡流效应

所属期刊栏目：25

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2006-03-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：14-17