用于PM2.5样品测定的全反射X荧光仪的研制

摘要：

研制适用于PM2.5样品分析的Mo靶和W靶全反射X荧光仪(TXRF).该仪器主要部分为光路和软件系统,经过光路系统的设计、加工、调试,使入射光达到全反射;软件开发实现了控制和数据获取处理功能.Mo靶TXRF测量各元素检出限(ng)分别为K 9.4,Ca 4.1,Sc 8.5,Ti 3.0,V 3.5,Cr 3.2,Mn 1.5,Fe 0.99,Ni 0.24,Cu 0.63,Zn 0.5,Pb 1.6,Ba 11.9;W靶TXRF测量各元素检出限(ng)分别为Na 1935,Mg 1087,Al 1310,K 19.4,Ca 8.8,Sc 7.0,Ti 13.5, V 7.8,Cr 2.3,Mn 4.0,Fe 4.5,Ni 4.5,Ba 6.2.重复测量100 ng的Ba和200 ng的Ti各6次,测定结果的相对标准偏差分别为5.3%,1.4%;51.2 μg/cm2Zn和9.0 μg/cm2Ca测量结果与标准值的相对偏差分别为0.2%,5.8%.用Mo靶、W靶TXRF分别连续测量标准薄膜Cu样和Fe样4 h,测定结果的相对极差分别为5.1%,6.0%.该仪器检测限低,测量重复性、准确度、长期稳定性均满足ng量级微量元素的测量需求,可用于大气微尘样品的直接测量.

关键词：PM2.5样品、全反射X荧光仪、光路、软件、检出限

所属期刊栏目：27

分类号：O657.3(分析化学)

在线出版日期：2018-05-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：112-116