2.79 μm中红外激光对CMOS图像传感器的辐照效应研究

摘要：

研究中红外波段激光对CMOS图像传感器的辐照效应,对探索空间态势感知系统光学成像器件的激光干扰和损伤条件具有重要军事意义.开展了不同重频下 2.79 μm中红外激光对CMOS图像传感器的干扰与损伤实验.观察到CMOS图像传感器的饱和、过饱和以及损伤产生的绿屏、彩色条纹、黑屏、亮线等一系列干扰损伤现象.同时测量了传感器各种辐照现象相对应的 2.79 μm中红外激光干扰损伤阈值,研究了图像传感器辐照效应与激光重频之间的内在关系,分析了 2.79 μm中红外激光对CMOS图像传感器的干扰损伤机理.研究表明,CMOS图像传感器的激光损伤主要以材料的热熔融为主,热效应明显.在激光重频 10 Hz的辐照下,饱和干扰阈值为 0.44 J/cm2、过饱和阈值为0.97 J/cm2、损伤阈值为 203.71 J/cm2.研究表明CMOS图像传感器具有很好的抗干扰和抗损伤能力,实验测得的相关阈值数据在空间激光攻防领域具有重要的参考价值.

关键词：中红外激光、辐照效应、CMOS图像传感器、损伤阈值

所属期刊栏目：52

分类号：TN249(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2023-10-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：415-422