光电探测器表面损伤状态偏振成像式探测系统

摘要：

针对在外场实现探测器损伤状态实时探测的需求,研发了光电探测器表面损伤状态偏振成像式探测系统.理论推导了"猫眼"目标回波偏振特性参数DP和回波偏振度DOP的表达式,利用MATLAB软件仿真绘制了表面粗糙度、回波偏振度以及偏振特性的关系曲线;设计了 一套同时偏振成像光学系统,开展了 671 nm连续激光对电荷耦合器件(CCD)表面损伤状态的实时探测外场实验,编制了基于MATLAB GUI的回波图像可视化实时采集系统,得到了回波图像强度、偏振特性以及光斑尺寸等信息;通过光学显微镜和白光干涉仪对探测器表面损伤处和未损伤处形貌图像分析,发现探测器损伤表面可见硅基底且粗糙度参数Sq值较大;结果表明,仿真结果与实验测试结果具有良好一致性.光电探测器被损伤后,其表面粗糙度增大,回波偏振特性参数DP减小,退偏特性明显,偏振度DOP减小.偏振成像技术可有效对光电探测器表面损伤状态进行实时探测,该研究提供了 一种外场条件下实时探测的好方法.

关键词：偏振成像、损伤探测、偏振特性、电荷耦合器件、粗糙度

所属期刊栏目：51

分类号：TH74(仪器、仪表)

在线出版日期：2022-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：349-357