CMOS图像传感器辐射损伤导致星敏感器性能退化机理

摘要：

为了分析恶劣空间辐射环境导致星敏感器性能退化、姿态测量精度降低的原因,深入研究了辐射环境下互补金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor, CMOS)图像传感器辐射损伤对星敏感器性能退化的影响.该方法通过建立空间辐射和CMOS图像传感器辐射损伤敏感参数、星敏感器性能参数之间的相关性,揭示了CMOS图像传感器器件参数退化到星敏感器系统参数退化的传递机制.60Co-γ辐照试验表明:辐照后,系统信噪比的降低导致星敏感器星等探测灵敏度的降低,信噪比是联系CMOS图像传感器和星敏感器系统之间的桥梁.质子辐照试验表明:当辐照注量大于3.68×1010 p/cm2时,已无法正确提取星点质心.该研究结果为星敏感器在轨姿态测量误差预测和修正技术的研究奠定了一定的基础,更可以为高精度星敏感器的设计提供一定的理论依据.

关键词：星敏感器、CMOS图像传感器、辐射损伤、性能退化

所属期刊栏目：49

分类号：O536(等离子体物理学)

资助基金：国家自然科学基金;西部之光"人才培养计划;自治区天池百人计划项目

在线出版日期：2020-06-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：93-99