导引头隔离度对最优落角制导律制导性能影响研究

摘要：

针对工程应用中最优落角制导律性能受导引头隔离度影响的问题,基于最优落角制导律(GLTIA)和拓展最优落角制导律(EGLIA),建立了包含捷联导引头隔离度寄生回路的最优落角制导律系统,研究了捷联导引头隔离度对制导系统稳定性的影响,利用伴随函数法,通过仿真对比分析了捷联导引头隔离度对GLTIA和EGLIA制导精度的影响.仿真结果表明:相比正反馈情况,当捷联导引头隔离度寄生回路为负反馈时,最优落角制导律具有较高的稳定域,系统稳定性会随着隔离度幅值的增大而减小.相比于GLTIA,EGLIA的制导性能更优,但导引头隔离度对其制导性能的影响也更为严重,在实际工程应用中,要保证最优落角制导律有较高的制导性能,EGLIA和GLTIA需将导引头隔离度水平分别控制在2.5％和3.5％以下,以降低寄生回路对制导系统稳定性的影响.

关键词：捷联导引头、最优落角制导律、隔离度寄生回路

所属期刊栏目：46

分类号：TJ765(火箭、导弹)

资助基金：国家科技重大专项

在线出版日期：2017-05-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：145-150