金刚石衬底的氧化钒薄膜光电特性研究
利用射频磁控溅射方法,在光学级单晶金刚石上制备了氧化钒薄膜,然后对其结构与厚度、表面形貌、电学及光学性能进行了表征。实验结果表明,制备出的薄膜表面均匀性良好,为单一组分的V2O5薄膜,在(001)面有明显的择优取向,薄膜结晶度和表面形貌非常好;电学性能方面,获得了三组不同厚度V2O5薄膜温阻特性曲线,当薄膜为150 nm时,薄膜的电学突变特性最好,电阻值变化幅度将近3个数量级;对不同厚度薄膜的光学响应特性进行了测试分析,当受到高能激光照射时,薄膜均出现了相变和回复,薄膜的光学开关时间均随着膜厚的增加而增加,其中光学关闭时间的变化范围为1.6~2.5 ms,回复时间的变化范围为26~33 ms。
V2O5薄膜、单晶金刚石、电学性能、光学特性
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O484.4(固体物理学)
国家自然科学基金51275230;航空科学基金20140152001;江苏省研究生培养创新工程KYLX 0226;中央高校基本科研业务费专项资金
2017-03-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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