SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究

摘要：

SRAM 型 FPGA在空间辐照环境下，容易受到单粒子效应的影响，导致 FPGA存储单元发生位翻转，翻转达到一定程度会导致功能错误。为了评估FPGA对单粒子效应的敏感程度和提高FPGA抗单粒子的可靠性，对实现故障注入的关键技术进行了研究，对现有技术进行分析，设计了单粒子翻转效应敏感位测试系统，利用SRAM 型 FPGA部分重配置特性，采用修改FPGA配置区数据位来模拟故障的方法，加速了系统的失效过程，实现对单粒子翻转敏感位的检测和统计，并通过实验进行验证，结果表明：设计合理可行，实现方式灵活，成本低，为SRAM型 FPGA抗单粒子容错设计提供了有利支持。

关键词：单粒子翻转、SRAM 型 FPGA、故障注入

分类号：V11(航空、航天的发展与空间探索)

资助基金：国家863计划2012AA121502

在线出版日期：2015-01-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：164-168