10.3969/j.issn.1007-2276.2014.10.047
基于Nd:YAG激光回馈干涉效应的PZT精密测量技术与系统
压电陶瓷在精密控制中具有重要作用,而其在快速控制中的实际高频响应却缺少有效且精密的方法。总结了目前测量压电陶瓷特性的方法,分析了测量中存在的困难和不足,使用基于激光回馈干涉原理的Nd:YAG微片激光回馈干涉测量系统对压电陶瓷的动态特性进行了研究。使用两种压电陶瓷在100 Hz~7 kHz驱动电压下对位移响应进行了测量,相应测量位移范围7~34 nm。测量精度达到纳米量级,对较高的振动频率实现了准确测量。该方法具有很高的测量精度,对被测对象要求较低。
Nd:YAG、激光回馈、压电陶瓷
TN249(光电子技术、激光技术)
国家自然科学基金60827006
2014-12-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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