双曝光数字全息三维变形测试

摘要：

全息三维变形测试在军事、工业测试中有重要意义，而传统的全息术由于记录、显影、定影、再现、复位等条件使其应用受到限制。文中应用CCD实现了数字全息，不仅避免了传统全息显影、定影等过程，也避免了全息材料非线性记录等缺点，并基于双曝光全息干涉术和四步相移法原理，实现了数字相移，取代了传统的应用压电位移器等机械相移法，实现了物体的三维变形测试。由物体变形的二维等高线图和三维立体图，可判读物体变形的大小、变形的方向和变形的形状。大量的实验表明，该方法不仅简化了全息干涉测试的光学装置，而且具有操作简单，测试精度高，其精度容易达到1/10波长。

关键词：三维变形测试、双曝光全息干涉术、数字全息、四步数字相移法

分类号：TN26(光电子技术、激光技术)

资助基金：总装备部预研基金9140A17060306BQ0303

在线出版日期：2014-08-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1582-1586