反射光学系统杂散光的消除

摘要：

成像光学系统中的杂散光会引起像质模糊和对比度下降,在对像质要求较高,或被探测的光能量微弱的情况下,必须对杂散光进行消除.RC(Ritchey-Chretien)系统是卡塞格林系统的一种形式,在地面光电探测和空间对地观测等方面都有广泛应用.以焦距为2 m,相对孔径为1/4的RC系统为例,介绍了利用计算机仿真技术进行消杂散光设计和评价的原理.结合CAD建模进行了主镜内遮光罩、外遮光筒、次镜百叶窗式遮光罩的设计.使用光线模拟追迹软件TRACEPRO建立的测试系统进行仿真测试,得到R-C系统的杂光系数为6.4%,证明了设计的可行性,为应用和进一步的优化设计提供了依据.

关键词：R-C系统、杂散光、遮光罩、模拟测试

所属期刊栏目：37

分类号：TN216(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家高技术研究发展计划资助项目863计划

在线出版日期：2008-07-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：316-318