空间高速InGaAs-PIN光电二极管辐射损伤效应试验研究

摘要：

利用质子、中子和伽马射线辐照空间激光通信系统拟选用的高速InGaAs-PIN光电二极管,对其辐射损伤效应开展研究,以评估PIN光电器件在空间辐射环境中的适用性.基于辐照前后器件的暗电流、光电流、光谱响应、电容等参数随辐照剂量变化的测试数据,对各参数受辐照影响的程度和不同辐照模拟源对光电器件造成的辐射损伤差异进行了比较分析.结果表明:PIN光电二极管的暗电流是受辐照影响最严重的参数,而光电流、光谱响应、电容等参数受辐照影响较小;暗电流增加主要与质子和中子辐照引入的非辐射复合中心有关,并与位移损伤剂量基本成线性关系.

关键词：PIN光电二极管、暗电流、光电流、光谱响应、辐射效应、电离总剂量效应、位移损伤效应

所属期刊栏目：36

分类号：TK514;V520(特殊热能及其机械)

资助基金：国家自然科学基金项目11475078;装备预研抗辐射加固基金项目6140A24XXXXXX

在线出版日期：2019-05-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：139-145