卫星电子组件高加速寿命试验技术

摘要：

高加速寿命试验(HALT)是一种高效的可靠性试验.通过高加速应力作用,激发产品潜在缺陷变为故障并进行改进,以达到其在使用中几乎不会出现故障的目的.文章阐述了试验的基本原理、试验剖面和失效分析等等,根据航天产品的特点,给出了应力极限确定步骤和温度控制方法,并将该方法在卫星典型电子组件上进行了应用研究.

关键词：高加速寿命试验、步进应力、工作限、破坏限、试验剖面、电路盒

所属期刊栏目：28

分类号：V416.5(基础理论及试验)

资助基金：“十一五”可靠性共性技术预研项目51319030205

在线出版日期：2013-05-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：454-458