脉冲激光试验在宇航器件和电路系统抗单粒子效应设计中的初步应用

摘要：

抗单粒子效应加固是宇航器件研发和卫星电路系统设计面临的重要难题.准确、有效的单粒子效应试验评估对此问题的解决有巨大帮助.中国科学院空间科学与应用研究中心于近十年在国内自主发展了用于单粒子效应评估的脉冲激光试验相关装置、试验技术和方法,对宇航器件和卫星电路开展了初步应用.通过脉冲激光试验,能够快速甄别、定位宇航器件试样的单粒子效应薄弱点,以及快速地摸底评估出芯片的整体加固性能.对于卫星电路系统,脉冲激光试验不仅能够快速摸底评估拟用器件的抗单粒子效应性能,而且能够针对芯片空间分布和电路时序变化进行扫描和定点测试,验证加固效果.

关键词：单粒子效应、宇航器件、卫星电路系统、脉冲激光

所属期刊栏目：28

分类号：V416.5;TN406(基础理论及试验)

资助基金：国家自然科学基金项目40974113;中国科学院知识创新工程青年基金项目082111A17S

在线出版日期：2013-05-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：121-125