验证BIT测试性指标的总线级故障注入系统及其设计

摘要：

文章详细分析了机内测试(BIT,Built-in test)系统的测试性指标验证和评价的重要性与实用性,并着重介绍了用于BIT测试性指标验证的总线级故障注入系统及其硬件,软件设计以及该系统的工作流程,并通过时序分析证明了该系统进行实时故障注入的可实现性和可操作性,最后给出了该系统进行故障注入试验后的软硬件试验结果.

关键词：测试性、机内测试、总线级、故障注入、故障诊断

所属期刊栏目：25

分类号：TN406(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-12-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：479-484