10.3969/j.issn.1673-1379.2008.05.008
ZnO粉末质子辐照损伤效应
文章研究了90 keV质子辐照作用下ZnO粉末的辐照损伤机制.ZnO粉末的质子辐照损伤方式以电离效应为主,质子辐照后ZnO粉末表面产生大量的氧空位型缺陷(Vo**,Voo*和Vo).氧空位型缺陷的产生是ZnO粉末光谱反射系数下降的主要原因.实验结果表明:质子辐照下,ZnO粉末光学性能退化主要发生在可见光区,在红外区间ZnO粉末光学性能退化不明显.
ZnO粉末、质子辐照、辐照损伤、氧空位
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V416.5(基础理论及试验)
2008-12-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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