全聚焦双曲面弯晶在单波长X-射线荧光光谱仪中的应用

摘要：

单波长X-射线荧光光谱仪是将X-射线连续谱单色化，这就降低了连续谱背景对检测元素的干扰。如果检测元素含量很低，很难在连续谱中取出所测元素的特征谱。单波长X-射线荧光光谱仪将所测元素的特征谱取出，没有连续谱背景的干扰，它的检出限低能达到ppm级。单波长X-射线荧光光谱仪，其核心技术双曲面弯晶一直掌握在美国的一家公司，由于垄断原因，很难检索到双曲面弯晶成型工艺的文献。安科慧生申请了北京科委“单波长色散 X 射线荧光光谱仪研制与量产”的课题。公司经过不断摸索，制定了双曲面弯晶成型的生产工艺。此生产工艺已经达到世界领先水平。试验证明：我们生产的国内第一台单波长 X-射线荧光光谱仪，在油品测硫元素检出限已经达到0.3ppm。

机标关键词：射线荧光光谱仪、双曲面、单波长、全聚焦

分类号：TG115.3;K876.3;TF521

在线出版日期：2014-11-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：173-173,162