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10.3969/j.issn.1000-565X.2016.08.009

XLPE电缆老化状况对绝缘层微观结构的影响

引用
对两条退役110 kV XLPE电缆和一条备用电缆进行试验,利用电声脉冲法(PEA)和X射线衍射技术(XRD)研究了老化状况对XLPE电缆绝缘层微观结构的影响.结果表明:电缆的老化会造成绝缘晶体尺寸减小,结晶度降低,因此其捕获空间电荷的能力增强;老化过程始于电缆最外层,而长时间的老化作用对绝缘中间层的影响更大,中间层可能是击穿的薄弱环节;XLPE电缆绝缘老化使绝缘微观结构从“中间高两端低”转变为“均匀化”.

110 kV XLPE电缆、电声脉冲法、X射线衍射、晶体、空间电荷

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TM726(输配电工程、电力网及电力系统)

国家高技术研究发展计划863计划项目2015AA050201;国家自然科学基金面上项目51477054;广东省科技计划项目2013B010405002Supported by the National High-tech R & D Program of China 863 program2015AA050201;the National Natural Science Foundation of China51477054;the Science and Technology Planning Project of Guangdong Province2013B010405002

2017-01-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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华南理工大学学报(自然科学版)

1000-565X

44-1251/T

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2016,44(8)

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