支持向量机在小子样IC可靠性评估中的应用

摘要：

在实际的电子元器件可靠性评估中,通常会遇到小样本的限制,无法满足传统的基于大样本的评估方法的假设.有鉴于此,文中提出了基于支持向量机的小子样元器件可靠性评估方法.该方法通过对元器件失效时间的训练,选择最优的核函数及核参数建立支持向量机模型,利用建立的模型得到拟合直线,从而进行可靠性参数评估.将该方法应用于栅氧化层击穿寿命分布的评估中,可获得比基于大样本的最小二乘评估方法更高的评估精度.

关键词：可靠性、集成电路、支持向量机、栅氧化层、最小二乘法

所属期刊栏目：37

分类号：TP202+.1(自动化技术及设备)

在线出版日期：2009-04-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：23-26