高速总线控制芯片故障定位与失效机理研究

摘要：

随着对数据传输能力要求不断提高,高速总线控制芯片的可靠性越来越受到关注,针对高速控制总线芯片在设计验证阶段失效问题进行分析,通过故障定位方法,系统研究了芯片在设计、封装及测试验证过程中的影响因素,确定芯片失效位置及机理,为总线控制电路过应力EOS防护设计提供参考,保证芯片在高速传输过程中的数据稳定以及低误码率.

关键词：高速总线、控制芯片、应用故障分析、失效机理

所属期刊栏目：52

分类号：TN492(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金52101055

在线出版日期：2022-12-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：112-115