基于FPGA的硬件ECC校验的设计与实现

摘要：

随着存储技术的高速发展,以NAND FLASH为存储介质的存储系统具有存储密度高、容量大、体积小、功耗低和成本低等优点,因此NAND FLASH在不同的领域都得到了广泛的应用.然而,由于NAND FLASH本身的工艺局限性,其数据在传输与存储过程中可能发生“位翻转”的现象,故为了保证存储数据的可靠性,NAND FLASH存储系统在使用过程中需要伴随一定的检错与纠错机制.在对常用的NAND FLASH存储系统校验算法进行简要介绍的基础上,结合NAND FLASH的本身特性,确定在系统中使用ECC校验.对ECC校验的原理及FPGA设计实现进行了阐述,并对设计实现进行了功能仿真和试验验证.

关键词：ECC校验、NAND FLASH、FPGA、位翻转

所属期刊栏目：44

分类号：TP343(计算技术、计算机技术)

资助基金：装备预研共用技术基金项目资助9140A16010311HK6101

在线出版日期：2015-02-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：120-124