期刊专题

10.11823/j.issn.1674-5795.2018.01.01

基于干涉法的非球面测量技术

引用
随着光学精密加工技术的发展,非球面光学元件在各种光学系统中广泛应用,高精度非球面检测技术对非球面光学元件的发展意义重大.论述了基于干涉法的非球面面形误差检测技术.根据检测原理,分别对零位干涉检验法与非零位干涉检验法进行了详细介绍.概述了近年来主流的非球面检测技术现状,展望了非球面面形检测技术的发展趋势.

非球面检测、干涉检测、零位检验法、非零位检验法

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TH742(仪器、仪表)

国家自然科学基金51327005,51735002,61705008

2018-08-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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计测技术

1674-5795

11-5347/TB

38

2018,38(1)

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