基于可靠性指标的测试系统校准周期优化

摘要：

通过对测试系统校准周期的直接反应法(SRM)和威布尔(Weibull)可靠性模型法的分析、改进,以及对校准过程中误判率的分析测算,解决了测试系统检定决策的风险问题.首先介绍了测试系统可靠性指标的相关计量技术规范,然后通过对常用的校准周期确定方法的介绍与分析,进-步给出了测量可靠性观测值的可靠性概率函数描述方法,并利用主元分析法来综合评价不同测量参数的影响,修正了最佳校准周期的计算.通过对自动测试系统DMM(数字万用表)测量通道的检定,表明这些优化措施是可行的.

关键词：校准周期、可靠性指标、威布尔模型、误判率、主元分析

所属期刊栏目：25

分类号：TP227(自动化技术及设备)

资助基金：国家自然科学基金60904085

在线出版日期：2010-09-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：1640-1645