电子束选区熔化制备TiAl合金叶片热冲击失效机理

摘要：

电子束选区熔化(selective electron beam melting,SEBM)增材制造技术在制备具有低室温塑性的金属间化合物材料方面具有独特的技术优势,采用该技术制备的TiAl合金部件已经在先进航空发动机获得成功应用.本研究以Ar气雾化的Ti-48Al-2Cr-2Nb预合金粉末为原料,采用SEBM成功制备出TiAl合金低压涡轮导向叶片模拟件,并对叶片的抗热冲击性能及随炉试棒的室温拉伸性能进行评价.结果表明:SEBM制备的TiAl合金经热处理后室温抗拉强度可达515 MPa,断后伸长率为1.13％;TiAl合金叶片模拟件经700℃水淬热冲击120次后结构完整,经900℃水淬热冲击6次后叶身部分出现垂直于径向的裂纹;结合裂纹扩展路径和裂纹断口分析,确定叶片部件在热冲击条件下失效的主要机制是表面较大粗糙度引起的应力集中.

关键词：电子束选区熔化、钛铝合金、热冲击、室温拉伸

所属期刊栏目：42

分类号：TG661;TG146.23

资助基金：国家重点研发计划;国家科技重大专项;国家自然科学基金

在线出版日期：2022-10-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：91-99