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10.3969/j.issn.1005-5053.2001.01.005

Ti/Ni/Ti复合层TLP扩散连接Si3N4陶瓷与接头质量控制

引用
研究了Ti/Ni/Ti复合层TLP扩散连接Si3N4陶瓷。结果表明,Ni-Ti过渡液相存在时间短,在此期间形成的界面结合强度低;必须进一步固态扩散反应才能形成高强度接头,相应的接头显微结构为:Si3N4/TiN/Ti5Si3+Ti5Si4+Ni3Si/NiTi/Ni3Ti/Ni。连接时间、连接温度、连接压力及Ti和Ni的厚度影响接头组织和强度,其最佳值为60min,1050℃、2.5MPa、20μm和400μm,所得接头室温和800℃剪切强度分别为142MPa和61MPa。

TLP扩散连接、Si3N4陶瓷、高温强度

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TG454(焊接、金属切割及金属粘接)

国家自然科学基金596750056

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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航空材料学报

1005-5053

11-3159/V

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2001,21(1)

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