基于边界扫描的印制板可测试性分析研究

摘要：

DSP和FPGA等大规模数字集成电路因管脚多、间距密，在电装过程中易出现焊接故障。为减少排故时间，采用了边界扫描测试方法。本文介绍了边界扫描测试技术的基本原理，以及故障诊断的方法，并通过实例仿真验证该方法的有效性。为今后提高可测试性设计水平打下良好基础。

关键词：边界扫描、可测性设计、故障诊断

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：中航导弹院科技创新基金2014DZC01

在线出版日期：2015-09-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：47-50