基于固体探测器SDD的XAFS数据获取系统

摘要：

X射线吸收精细结构谱学(X-ray Absorption Fine Structure, XAFS)的发展，提出了对低浓度（痕量）元素研究的需求，高灵敏度的固体探测器纷纷被应用到XAFS技术中来。硅漂移探测器(Silicon Drift Detector, SDD)是一种高计数率、高能量分辨率、采用半导体制冷的小型荧光探测器，其商业产品渐趋成熟。北京同步辐射装置1W2B实验站装备了这种小型SDD，并开发了相应采谱软件供用户使用。经过对含Cu 100 mg·L?1浓度的CuSO4溶液的测试，结果证明这套新的采谱系统可以满足1W2B实验站XAFS实验荧光模式的需求。

关键词：同步辐射、SDD、XAFS、LabVIEW

所属期刊栏目：39

分类号：TL814(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

资助基金：国家自然科学基金11305197

在线出版日期：2016-11-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：7-11