基于蒙特卡罗方法的XRF探测器立体角分析

摘要：

为研究探测器立体角在X射线荧光(X-ray fluorescence, XRF)分析仪的设计对测量结果的影响，运用蒙特卡罗方法对XRF仪进行建模。结果表明，探测器脉冲计数随着探测器与样品之间距离的增大指数衰减；随着探测器立体角的增大，特征峰计数非线性增大，源峰探测效率指数递减；探测器本征探测效率与探测器立体角无关。本文研究方法和结论可为一些XRF仪的设计提供参考。

关键词：探测器立体角、X荧光分析、蒙特卡罗方法、拟合优度

分类号：TL8,O657.3(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

资助基金：国家863计划项目2012AA061803;国家自然科学基金41074093

在线出版日期：2015-07-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：060502-1-060502-5