PNP输入双极运算放大器ELDRS效应的60Coγ辐照高温退火评估方法

摘要：

选用了三种型号的PNP输入双极运算放大器,在正偏和零偏状态下进行了辐照实验,由此对高剂量率辐照后高温退火加速评估方法进行了探索.结果表明,辐照后高温退火的实验结果乘以一定的倍数因子,便可较好地模拟PNP输入双极运算放大器的低剂量率辐照损伤,根据曲线的变化规律可以较快地鉴别器件是否存在低剂量率辐射损伤增强效应.

关键词：双极运算放大器、60Co γ辐照、低剂量率辐射损伤增强效应、加速评估方法

所属期刊栏目：34

分类号：TN431(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2015-06-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：810-814