TGC放大器成形甄别器及测试系统

摘要：

本文分析了ASD板在ATLAS探测器最外层的μ子探测器中的工作环境以及作用,并按照其对ASD板质量的要求设计了一套对ASD板质量的专用批量测试系统.本文详细叙述了测试系统的构成、测试原理以及对ASD板的测试结果.

关键词：TGC、ASD、测试系统、设计

所属期刊栏目：29

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金0051140291

在线出版日期：2006-09-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：614-618