10.3321/j.issn:0253-3219.2005.12.005
正电子湮没技术测量冷却方式对Zr在Ni3Al中扩散行为的影响
测量了在Ni3Al(Zr)合金经高温均匀化处理后,在空冷和水冷条件下的正电子寿命谱.结果表明,Ni3Al(Zr)合金经高温均匀化后,随即进行空冷时,随着Zr含量的增加,正电子在合金中的寿命谱特征参数降低,捕获率K降低.表明Zr原子扩散到晶界,并在晶界偏聚.而合金经高温均匀化后水冷时,合金的正电子寿命谱特征参数随着Zr含量的增加几乎没有变化.由于冷却速度较快,Zr原子来不及扩散到晶界上,而以固溶方式存在于Ni3Al基体中.
正电子湮没、Ni3Al、Zw、水冷、空冷、扩散
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O57(原子核物理学、高能物理学)
中国科学院资助项目59895152
2006-01-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
909-912