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10.3321/j.issn:0253-3219.2005.12.005

正电子湮没技术测量冷却方式对Zr在Ni3Al中扩散行为的影响

引用
测量了在Ni3Al(Zr)合金经高温均匀化处理后,在空冷和水冷条件下的正电子寿命谱.结果表明,Ni3Al(Zr)合金经高温均匀化后,随即进行空冷时,随着Zr含量的增加,正电子在合金中的寿命谱特征参数降低,捕获率K降低.表明Zr原子扩散到晶界,并在晶界偏聚.而合金经高温均匀化后水冷时,合金的正电子寿命谱特征参数随着Zr含量的增加几乎没有变化.由于冷却速度较快,Zr原子来不及扩散到晶界上,而以固溶方式存在于Ni3Al基体中.

正电子湮没、Ni3Al、Zw、水冷、空冷、扩散

28

O57(原子核物理学、高能物理学)

中国科学院资助项目59895152

2006-01-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

909-912

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核技术

0253-3219

31-1342/TL

28

2005,28(12)

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