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10.3321/j.issn:0253-3219.2000.07.011

离子束增强沉积法制备Mo2N和Mo2-xTixN薄膜及其结构与性能研究

引用
分别采用氮离子束增强沉积和N-Ti离子束同步增强沉积工艺制备了Mo2N和Mo2-xTixN薄膜,用XRD、TEM、划痕和阳极极化方法研究了两者的结构与性能。结果表明,N-Ti离子束同步增强沉积工艺制备的Mo2-xTixN薄膜的膜基结合力、致密性和抗腐蚀性能均优于氮离子增强沉积的Mo2N薄膜,Mo2-xTixN薄膜划痕临界载荷达3000gf,比Mo2N薄膜提高一倍。自腐蚀电位从Mo2N薄膜的32mV提高到Mo2-xTixN薄膜的166mV,自腐蚀电流相应地从0.5μA/cm2减小到0.26μA/cm2。Mo2-xTixN薄膜的结构是Mo2N的f.c.c.结构。

金属离子束、Mo2N、增强沉积

23

TL501(加速器)

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

483-487

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核技术

0253-3219

31-1342/TL

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2000,23(7)

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