10.3321/j.issn:0253-3219.2000.06.011
用Monte-Carlo方法计算正电子湮没寿命谱中的衬底效应
用Monte-Carlo方法模拟计算了22Na源的正电子在不同厚度Mylar膜、Ni膜衬底中的湮没几率,得出Si、Fe、PE、PP 4种样品在不同Mylar膜厚度下的衬底效应。结果显示,对PE、PP样品衬底效应较Si、Fe等样品强。表明用Monte-Carlo方法计算衬底效应是可行的。
Monte-Carlo模拟、正电子湮没寿命谱、衬底效应
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O571.33(原子核物理学、高能物理学)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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