粉末压片-波长色散X射线荧光光谱法在钼矿石测定中的应用

摘要：

试样用高密度聚乙烯干粉镶边衬底压片,波长色散X射线荧光光谱法测定钼矿石中Mo及其伴生元素W、Sn、Cu、Pb、Zn、Bi的含量.根据我国钼矿品位的特点,选择国家标样与某一大型钼矿样品相结合的办法建立校准曲线,钼测量范围为0.03%～1.51%,采取经验系数法对基体效应进行校正.选一试样11次压片测定.各成分结果的相对标准偏差<1%,用该方法测定某一大型钼矿样品,其结果与其他单位湿法结果对比,具有良好的一致性,主量及伴生元素结果与标样认定值比对结果理想.

关键词：粉末压片、波长X射线荧光光谱、钼矿石、伴生元素

所属期刊栏目：19

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2011-08-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：78-80