SiO2泡沫微球密度精密检测技术研究

摘要：

根据垂直扫描干涉技术结合样品折射率与密度间的依赖关系,建立了低密度SiO2泡沫微球密度的检测方法,用Lorentz-Lorenz和Gladstone-Dale公式分析了SiO2泡沫微球折射率与密度间的依赖关系.实验结果和测量误差估计表明,利用垂直扫描干涉技术并结合Gladstone-Dale分析方法,可实现对低密度SiO2泡沫微球密度的精密检测,其测量误差好于5％.

关键词：SiO2泡沫微球、密度检测、垂直扫描干涉、折射率、惯性约束聚变

所属期刊栏目：33

分类号：TL67(受控热核反应（聚变反应理论及实验装置）)

资助基金：国家863计划项目资助课题

在线出版日期：2013-07-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：88-91