HT-7装置低杂波电流驱动逃逸电子行为分析

摘要：

用NaI闪烁体探测器组成的逃逸电子诊断系统和CdTe半导体探测阵列组成的快电子轫致辐射诊断系统,研究了一定等离子体密度条件下低杂波功率和等离子体电流对逃逸产生的影响以及一定低杂波功率下等离子体密度对逃逸电子产生的不同作用效果.根据实验数据计算了HT-7装置等离子体中电子逃逸的阈值电场和一定放电条件下电子逃逸的阈值能量.

关键词：低杂波电流驱动、电流密度、逃逸电子

所属期刊栏目：29

分类号：O536;O532(等离子体物理学)

资助基金：国家自然科学基金项目10675124;JSPS-CAS Core -University Program

在线出版日期：2009-04-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：33-38