高密度聚乙烯-蒙脱土纳米复合材料微结构的正电子研究

摘要：

正电子湮没技术作为一种无损的微结构检测方法在高分子/层状硅酸盐纳米复合材料中具有广泛的应用前景.本研究利用正电子湮没寿命谱学方法,对丙烯酸接枝前后高密度聚乙烯和蒙脱土的纳米复合材料的微结构进行了表征.实验发现,丙烯酸的接枝导致了o-Ps强度的减小.纳米复合材料中o-Ps强度及o-Ps寿命分布随蒙脱土含量增加的变化,证实了极性丙烯酸基团优先进入了蒙脱土片层之中.

关键词：高分子纳米复合材料、接枝、正电子湮没、自由体积

所属期刊栏目：42

分类号：TB383;TQ32;TS195.592

资助基金：国家自然科学基金11205118

在线出版日期：2015-06-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：96-98