ICP-AES法测定镍铁中Ni、P、Si、Cu

摘要：

镍铁中含有Ni、P、Si、Cu等多元素杂质，传统的单一元素测定法虽然准确可靠，但操作过程复杂。本文采用电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-AES）同时测定镍、磷、硅、铜的含量，通过选择合适的仪器测定参数、分析谱线消除共存元素间的干扰。实验结果证明此法相对标准偏差低，测定效果好。

关键词：镍铁、ICP-AES、谱线

分类号：X83;O65

在线出版日期：2014-04-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：14-14